便攜式X射線衍射儀主要應(yīng)用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向性分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測定等。采用進(jìn)口西門子PLC控制，其具有精度高、準(zhǔn)確度高、穩(wěn)定性好、壽命長、易升級、操作簡便和智能化的特點，能靈活地適應(yīng)各種行業(yè)的測試分析與研究！

　　便攜式X射線衍射儀可解決的問題

　　1.由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例；

　　2.很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度；

　　3.新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)；

　　4.產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力；

　　5.納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射儀可以測定納米粒子的平均粒徑。

　　便攜式X射線衍射儀是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的*的衍射現(xiàn)象。